XDV-SDD

De XDV-SDD is een van de krachtigste röntgenfluorescentie-apparaten in het Fischer-portfolio. De instrumenten zijn uitgerust met bijzonder grote silicium driftdetectoren (SDD). Een 50 mm² detectorvenster maakt snelle en nauwkeurige analyses mogelijk, zelfs voor kleine meetspots. Bovendien kunnen de apparaten worden uitgerust met verschillende collimatoren en filters om de optimale excitatieomstandigheden voor de betreffende meetopgave te creëren.

XDV-SDD voor laagdiktemeting en materiaalanalyse

Kenmerken

  • Hoogwaardige röntgenbuizen en silicium driftdetector (SDD) met groot effectief oppervlak voor precieze, nauwkeurige meting van zelfs de dunste coatings
  • Extreem robuuste constructie voor seriële testen, met uitstekende stabiliteit op lange termijn
  • Programmeerbare XY-tafel en Z-as voor geautomatiseerd serieel testen
  • Live-video-imaging en laserpointer voor het snel en eenvoudig positioneren van samples.

Toepassingen:

Laagdiktemeting

  • Testen van zeer dunne coatings, b.v. goud- en palladiumlagen ≤0,1μm dik, in de elektronica- en halfgeleiderindustrie
  • Meting van harde coatings in de automobiel-productie
  • Laagdiktemeting in de fotovoltaïsche industrie

Materiaalanalyse

  • Identificatie van ongewenste stoffen (bijvoorbeeld zware metalen) in elektronica, verpakkingen en consumptiegoederen volgens RoHS, WEEE, CPSIA en andere richtlijnen
  • Analyse van goud en andere edele metalen, alsmede legeringen daarvan
  • Bepaling van de samenstelling van functionele coatings, zoals de bepaling van het fosforgehalte in NiP

Uw contact met FISCHER

Contact

Helmut Fischer Meettechniek B.V.
Eindhoven/Nederland

direct contact
Tarasconweg 10, Eindhoven/Nederland
tel.: +31 40 248 22 55
email: info@helmutfischer.nl
online contactformulier

informatie