XUV

De vacuümmeetkamer van apparaten uit de XUV®-serie maakt de analyse van lichte materialen vanaf natrium mogelijk d.m.v. röntgenfluorescentieanalyse (RFA). Vanwege de stralingsabsorptie-eigenschappen van lucht is het meestal niet mogelijk om deze methode te gebruiken. Daarom is dit instrument ideaal voor veeleisende laagdiktemetingen en materiaalanalyses.

XUV

Kenmerken:

  • Met name geschikt voor onderzoek en ontwikkeling dankzij lage detectiegrenzen, herhaalbare nauwkeurigheid en universele upgrademogelijkheden
  • Vacuümkamer en krachtige silicon-drift-detector voor nauwkeurige meting, zelfs van lichte elementen
  • Geautomatiseerde serietesten met programmeerbare X-, Y- en Z-assen
  • Aan te passen aan de eisen van diverse materialen en meetomstandigheden d.m.v. verwisselbare collimatoren en filters

Toepassingen:

Laagdiktemeting

  • Lagen van lichte elementen vanaf natrium op de nm-schaal
  • Aluminium- en siliconenlagen

Materiaalanalyse

  • Bepaling van de authenticiteit en herkomst van edelstenen
  • Algemene materiaalanalyse en forensisch onderzoek
  • Sporenanalyse met hoge resolutie

Uw contact met FISCHER

Helmut Fischer Meettechniek B.V.
Eindhoven/Nederland

direct contact
tel.: +31 40 248 22 55
email: info@helmutfischer.nl
online contactformulier

informatie