XDL / XDLM / XDAL

Door gemotoriseerde assen (optie) en meetrichting van boven naar beneden kunnen de meettoestellen uit de XDL®-serie geautomatiseerde serietesten uitvoeren. Dankzij de vele verschillende versies – variërend qua röntgenbron, filter, collimatoren en detector – kan het röntgentoestel worden gekozen met de configuratie die het best bij uw specifieke toepassing past.

XDL-serie

Kenmerken:

  • Röntgenfluorescentietoestellen voor diverse toepassingen, dankzij verschillende hardwarecomponenten
  • Ook geschikt voor het testen van geassembleerde printplaten of delen met diepteverschillen dankzij de variabele meetafstand (tot 80 mm)
  • Geautomatiseerde serietests met programmeerbare XY-as en Z-as (optie)
  • Ideaal voor de meting van zeer dunne lagen met de silicon-drift-detector met hoge energieresolutie (XDAL-instrument)

Toepassingen:

Laagdiktemeting

  • Meting van coatings op grote platen en flexibele printplaten (flex PCB's)
  • Dunne geleidende en/of scheidingslagen op printplaten
  • Coatings op driedimensionale componenten
  • Chroomcoatings, bijvoorbeeld kunststofdelen met decoratieve chroomfinish

Materiaalanalyse

  • Analyse van galvanische baden
  • Analyse van functionele coatings in de elektronica- en halfgeleiderindustrie
  • Analyse van harde materiaallagen, bijvoorbeeld CrN, TiN or TiCN

Uw contact met FISCHER

Contact

Helmut Fischer Meettechniek B.V.
Tarasconweg 10
Eindhoven/Nederland
tel.: +31 40 248 22 55
email: info@helmutfischer.nl
online contactformulier

informatie